| পরীক্ষা এবং পরিদর্শন | ন্যূনতম নমুনার আকার | স্তর |
|
|
| ব্যাচের পরিমাণ 200 টুকরা কম নয় | ব্যাচ পরিমাণ: 1-199 টুকরা (দ্রষ্টব্য 1 দেখুন) |
|
| প্রয়োজনীয় পরীক্ষা |
|
| একটি স্তর |
| চুক্তির পাঠ্য এবং এনক্যাপসুলেশন |
|
| A1 |
| চুক্তির পাঠ্য এবং প্যাকেজিং পরিদর্শন (4.2.6.4.1) (অ-ধ্বংসাত্মক) | সব | সব |
|
| চেহারা পরিদর্শন |
|
| A2 |
| কসামগ্রিকভাবে (4.2.6.4.2.1) (অ-ধ্বংসাত্মক) | সব | সব |
|
| খ.বিশদ বিবরণ (4.2.6.4.2.2) (অ-ধ্বংসাত্মক) | 122 টুকরা | 122 টুকরা বা সব (ব্যাচ পরিমাণ 122 টুকরা কম) |
|
| পুনরায় টাইপিং এবং পুনর্নবীকরণ (ক্ষতিকর) | নোট 2 দেখুন | নোট 2 দেখুন | A3 |
| টাইপ করার জন্য দ্রাবক পরীক্ষা (4.2.6.4.3A) (ক্ষতিকর) | 3 টুকরা | 3 টুকরা |
|
| সংস্কারের জন্য দ্রাবক পরীক্ষা (4.2.6.4.3B) (ক্ষতিকর) | 3 টুকরা | 3 টুকরা |
|
| এক্স-রে সনাক্তকরণ |
|
| A4 |
| এক্স-রে সনাক্তকরণ (4.2.6.4.4) (অ-ধ্বংসাত্মক) | 45 টুকরা | 45 টুকরা বা সমস্ত (ব্যাচ পরিমাণ 45 টুকরা কম) |
|
| সীসা সনাক্তকরণ (XRF বা EDS/EDX) | Note3 দেখুন | Note3 দেখুন | A5 |
| XRF (ক্ষতিহীন) বা EDS/EDX (ক্ষতিগ্রস্ত) (4.2.6.4.5) (সংযোজন C.1) | 3 টুকরা | 3 টুকরা |
|
| খোলা কভার অভ্যন্তরীণ বিশ্লেষণ (ক্ষতিকর) | নোট 6 দেখুন | নোট 6 দেখুন | A6 |
| খোলা কভার (4.2.6.4.6) (ক্ষতিকর) | 3 টুকরা | 3 টুকরা |
|
| অতিরিক্ত পরীক্ষা (কোম্পানি এবং গ্রাহক উভয়ের দ্বারা সম্মত) |
|
|
|
| পুনরায় টাইপিং এবং পুনর্নবীকরণ (ক্ষতিকর) | নোট 2 দেখুন | নোট 2 দেখুন | A3 বিকল্প |
| স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (4.2.6.4.3C) (ক্ষতিকর) | 3 টুকরা | 3 টুকরা |
|
| সারফেস পরিমাণগত বিশ্লেষণ (4.2.6.4.3D) (অ-ধ্বংসাত্মক) | 5 টি টুকরা | 5 টি টুকরা |
|
| তাপের পরীক্ষা |
|
| বি লেভেল |
| তাপচক্র পরীক্ষা (অ্যানেক্স C.2) | সব | সব |
|
| বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য পরীক্ষা |
|
| সি লেভেল |
| বৈদ্যুতিক পরীক্ষা (সংযোজন C.3) | 116 টুকরা | সব |
|
| বার্ধক্য পরীক্ষা |
|
| ডি লেভেল |
| বার্ন-ইন টেস্টিং (পরীক্ষার আগে এবং পরে) (পরিশিষ্ট C.4) | 45 টুকরা | 45 টুকরা বা সমস্ত (ব্যাচ পরিমাণ 45 টুকরা কম) |
|
| নিবিড়তা নিশ্চিতকরণ (সর্বনিম্ন ফুটো হার এবং সর্বোচ্চ ফুটো হার) |
|
| ই লেভেল |
| নিবিড়তা নিশ্চিতকরণ (সর্বনিম্ন এবং সর্বোচ্চ ফুটো হার) (সংযোজন C.5) | সব | সব |
|
| শাব্দ স্ক্যানিং পরীক্ষা |
|
| F স্তর |
| অ্যাকোস্টিক স্ক্যানিং মাইক্রোস্কোপ (অ্যানেক্স C.6) | নিয়ম অনুসারে | নিয়ম অনুসারে |
|
| অন্যান্য |
|
| জি স্তর |
| অন্যান্য পরীক্ষা এবং পরিদর্শন | নিয়ম অনুসারে | নিয়ম অনুসারে |
মন্তব্য:
1. 10 পিসের কম ব্যাচের জন্য, Cognizant ইঞ্জিনিয়াররা, তাদের নিজস্ব বিবেচনার ভিত্তিতে, পরীক্ষার গুণমান এবং গ্রাহকের সম্মতি সাপেক্ষে, "ক্ষতিকর" পরীক্ষার জন্য নমুনার আকার কমিয়ে 1 টুকরা করতে পারে৷
2. পুনরায় টাইপ করা এবং পরিমার্জিত পরীক্ষার জন্য নমুনাগুলি ব্যাচ থেকে "অভিপ্রদর্শন পরীক্ষা - বিস্তারিত পরীক্ষা" এর জন্য নির্বাচন করা যেতে পারে।
3. সীসা পরীক্ষার নমুনা ব্যাচ থেকে "অবহার্য পরীক্ষা - বিস্তারিত পরীক্ষা" এর জন্য নির্বাচন করা যেতে পারে।
4. ওপেন কভার পরীক্ষার নমুনা "রিটাইপিং এবং রিফারবিশিং টেস্ট" এর মধ্য দিয়ে ব্যাচ থেকে নির্বাচন করা যেতে পারে।